
中國上海,2025年5月20日——東芝電子元件及存儲裝置株式會社(“東芝”)今日宣布,推出四款最新650V碳化硅(SiC)MOSFET——“TW031V65C”、“TW054V65C”、“TW092V65C”和“TW123V65C”。這些器件配備其最新的[1]第3代SiC MOSFET技術,并采用緊湊型DFN8×8封裝,適用于開關電源、光伏發電機功率調節器等工業設備。四款器件于今日開始支持批量出貨。
四款新器件是首批采用小型表貼DFN8×8封裝的第3代SiC MOSFET的器件,與TO-247和TO-247-4L(X)等通孔型封裝相比,其體積減小90%以上,并提高了設備的功率密度。表貼封裝還允許使用比通孔型封裝更小的寄生阻抗[2]元件,從而降低開關損耗。DFN8×8是一種4引腳[3]封裝,支持對其柵極驅動的信號源端子進行開爾文連接。這減少了封裝內部源極線電感的影響,實現高速開關性能;以TW054V65C為例,與東芝現有產品相比[5],其開通損耗降低了約55%,關斷損耗降低約25%[4],有助于降低設備中的功率損耗。
未來東芝將繼續擴大其SiC功率器件產品線,為提高設備效率和增加功率容量做出貢獻。
測量條件:VDD=400V、VGS=18V/0V、ID=20A、Ta=25°C、L=100μH,Rg(外部柵極電阻)=4.7Ω
續流二極管采用各產品源極和漏極之間的二極管。(截至2025年5月,東芝對比結果)
圖1 TO-247與DFN8×8封裝的導通損耗(Eon)和關斷損耗(Eoff)比較
應用:
-服務器、數據中心、通信設備等的開關電源
-電動汽車充電站
-光伏逆變器
-不間斷電源
特性:
-DFN8×8表面貼裝封裝,實現設備小型化和自動化組裝,低開關損耗
-東芝第3代SiC MOSFET
-通過優化漂移電阻和溝道電阻比,實現漏源導通電阻的良好溫度依賴性
-低漏源導通電阻×柵漏電荷
-低二極管正向電壓:VDSF=–35V(典型值)(VGS=–5V)
主要規格:
(除非另有說明,Ta=25°C)
第3代SiC MOSFET特性
SiC MOSFET常見問題解答
SiC MOSFET與Si IGBT的比較
SiC MOSFET絕對最大額定值和電氣特性
注:
[1] 截至2025年5月。
[2] 電阻、電感等。
[3] 一種信號源引腳靠近FET芯片連接的產品。
[4] 截至2025年5月,東芝測量值。請參考圖1。
[5] 采用TO-247封裝且無開爾文連接的、具有同等電壓和導通電阻的650V東芝第3代SiC MOSFET。
如需了解有關新產品的更多信息,請訪問以下網址:
TW031V65C
https://toshiba-semicon-storage.com/cn/semiconductor/product/mosfets/detail.TW031V65C.html
TW054V65C
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TW092V65C
https://toshiba-semicon-storage.com/cn/semiconductor/product/mosfets/detail.TW092V65C.html
TW123V65C
https://toshiba-semicon-storage.com/cn/semiconductor/product/mosfets/detail.TW123V65C.html
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SiC功率器件
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TW031V65C
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TW054V65C
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TW092V65C
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TW123V65C
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