近年來(lái)，汽車(chē)電子產(chǎn)品的功能安全話題越來(lái)越熱，功能安全的需求需要在產(chǎn)品的概念設(shè)計(jì)，系統(tǒng)設(shè)計(jì)，硬件開(kāi)發(fā)及軟件開(kāi)發(fā)中來(lái)實(shí)現(xiàn)。那么在硬件設(shè)計(jì)中就需要針對(duì)于產(chǎn)品中所用到的所有的所有的電子元件進(jìn)行FMEDA分析，來(lái)計(jì)算產(chǎn)品的硬件是否能達(dá)到預(yù)期的ASIL等級(jí)，那么計(jì)算中所用到的時(shí)間失效率FIT（Failure In Time）就尤為關(guān)鍵。本文就以NEXPERIA的產(chǎn)品為例，從FIT的角度介紹下MOSFET的可靠性。

FIT經(jīng)常被用來(lái)表達(dá)元件的可靠性，它的定義為在10^9小時(shí)內(nèi)產(chǎn)生失效的元件數(shù)量。在任意消逝的時(shí)間 t 內(nèi)，工作的半導(dǎo)體的可靠性 R 是：R(t) = (n0-nf)/n0。這里 n0 是原始的樣品數(shù)量，nf 是在 t 時(shí)間之后失效的數(shù)量。在經(jīng)過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間 109 小時(shí)后，大約是 F = (1/no)*(nf/t)*10^9