Mosfet并聯(lián)驅(qū)動
請問大家對MOSFET并聯(lián)驅(qū)動有什么感想
Mosfet并聯(lián)驅(qū)動
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并4--8只!
1071118266.sch
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@196
贊成觀點MOS并聯(lián)越多他的利用率就越低4個管子大概90%8個管子大概就75%,而且并聯(lián)對驅(qū)動功率要求高.
我的看法
諸位我不一一回答了.
里面問題多得去,前2天有一幅帖講到米勒電容,其實米勒電容充放的危害在并聯(lián)中是不可不考慮的,1/2C*V*V能量泄放的速度之快,泄放的回路在哪里?并的多電壓高能量就大,且不談電阻誤差、分布參數(shù)、回路電流初始值等等因素的影響,就MOSFET的開通、關斷電壓閥值一樣嗎?不可能理想,同型號不同廠家參數(shù)有差異,使用一段時間多少會發(fā)生變化,這是不好預測的,說道底并很難解決硬開關應力一至的問題.當然,我只講了一個問題.
你硬要4只、10只并,也不是不行,利弊的問題,我見過12只并的硬開關橋電源,輸出指標不敢恭維,并必然影響指標,指標是電源門檻.總之并麻煩多多,我的原則:已知山有虎,何不繞道行?
諸位我不一一回答了.
里面問題多得去,前2天有一幅帖講到米勒電容,其實米勒電容充放的危害在并聯(lián)中是不可不考慮的,1/2C*V*V能量泄放的速度之快,泄放的回路在哪里?并的多電壓高能量就大,且不談電阻誤差、分布參數(shù)、回路電流初始值等等因素的影響,就MOSFET的開通、關斷電壓閥值一樣嗎?不可能理想,同型號不同廠家參數(shù)有差異,使用一段時間多少會發(fā)生變化,這是不好預測的,說道底并很難解決硬開關應力一至的問題.當然,我只講了一個問題.
你硬要4只、10只并,也不是不行,利弊的問題,我見過12只并的硬開關橋電源,輸出指標不敢恭維,并必然影響指標,指標是電源門檻.總之并麻煩多多,我的原則:已知山有虎,何不繞道行?
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@tinyhe
考慮米勒效應每個mosfet應分別添加柵極電阻和柵極放電電阻
理論上,這樣能完全匹配每個FET的特性.然而實際上這是很難操作的:
要準確確定添加的電阻的值困難而且繁瑣.再者,電路布局和布線亦影響電阻的取值.
其實,我認為只有在線性應用時才需要考慮米勒效應的差異,如功放電路.開關應用時,如驅(qū)動夠快,導通的先后稍有差異并不影響工作:馬上就都全部導通了.何況,很多時候初始開通電流總是較小,而后逐漸增大的(反激型).當然如驅(qū)動不夠快,FET損耗以開關損耗為主時就要注意了.
Ron的差異才是主要影響平衡的因素,這可通過串聯(lián)電阻補償:但精確補償將面臨上面述及的困難;通過串聯(lián)比Ron大10倍的電阻又失去意義.較為可行的方法是每個FET單獨構成完整的buck拓撲(或其他拓撲),再并聯(lián).這樣解決了很多問題,就是電路稍為復雜,成本可能稍為增加.
要準確確定添加的電阻的值困難而且繁瑣.再者,電路布局和布線亦影響電阻的取值.
其實,我認為只有在線性應用時才需要考慮米勒效應的差異,如功放電路.開關應用時,如驅(qū)動夠快,導通的先后稍有差異并不影響工作:馬上就都全部導通了.何況,很多時候初始開通電流總是較小,而后逐漸增大的(反激型).當然如驅(qū)動不夠快,FET損耗以開關損耗為主時就要注意了.
Ron的差異才是主要影響平衡的因素,這可通過串聯(lián)電阻補償:但精確補償將面臨上面述及的困難;通過串聯(lián)比Ron大10倍的電阻又失去意義.較為可行的方法是每個FET單獨構成完整的buck拓撲(或其他拓撲),再并聯(lián).這樣解決了很多問題,就是電路稍為復雜,成本可能稍為增加.
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