泰克科技2021年度創新論壇（TIF 2021）6月16日于北京開啟。TIF助力第四次工業革命， 旨在“破-技術瓶頸、創-科技引擎、智-產業升級”，不忘初心，立足本土以及著力于全面數字化轉型，分享業界最新的發展趨勢和最前沿的測試方案。

本次論壇正值泰克75周年慶典之際，圍繞“數智泰克 創贏未來”的宗旨，泰克不僅發布了中國本土化戰略，還揭秘了中國特色的測試方案。在創新論壇北京站現場，泰克擁有多年經驗、來自不同熱門應用領域的專家圍繞主題進行了課程方案的分享，包括全新電力電子實驗平臺、三代功率器件動態測試系統、全新光隔離探頭、PCIE5和USB4.0高速總線測試、新型計算框架及神經元憶阻器表征測試等熱門應用的展示以及獨家解讀。

第三代功率器件動態參數測試系統

DPT1000A 功率器件動態參數測試系統由泰克科技領銜開發，專門用于針對三代半導體功率器件的動態特性分析測試，旨在解決客戶在功率器件動態特性表征中常見的疑難問題，包括如何設計高速工作的驅動電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進行信號測試，如何優化和抑制測試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發設計、失效分析、進廠檢測和試產階段快速評估器件性能，更快應對市場需求改善產品性能。也幫助客戶快速驗證自研驅動電路，加速應用端解決方案落地。

該系統由功率器件雙脈沖測試驅動板，高壓防護罩，芯片溫控系統，泰克高分辨率示波器，光隔離探頭，雙脈沖信號源，高壓電源和自動化測試軟件組成。以機柜系統形式交付客戶，可以通過上位機軟件配置測試設備和測試項目，獲取測試結果并生成數據報告。系統具備極高的測試靈活性，可以根據需求定制驅動電路板設計，更改柵極電阻，負載電感等關鍵器件參數。在保證安全的前提下，對功率器件的動態參數進行全面精準的測試評估。同時使用了泰克公司最新推出的新五系高分辨率示波器和專門用于高壓查分信號測試的光隔離探頭，為三代半導體器件動態特性表征帶來更高帶寬和更高測試精度。泰克新五系示波器可以最高支持8通道同時測量，對于半橋結構雙脈沖測試電路，可以同時對上下管信號進行同步測試。光隔離探頭提供了極高的共模抑制比，可以在上管測試中提供更準確的波形數據。針對系統中高速電流的測試，使用高精度電流傳感器，得到更高的電流測試帶寬和更準確的電流波形。同時系統還提供了動態導通電阻測試功能，可以在高速開關狀態下對器件的動態導通電阻進行評估，幫助客戶更準確的了解器件動態特性。

全新光隔離探頭

寬禁帶半導體功率器件SiC 和GaN比傳統硅基器件更小、更快、更可靠、更高效，而被廣泛采用在電力電子應用中。雖然應用三代功率器件使得減少重量、縮小體積，提升效率成為可能，但是給研發工程師帶來了全新的測試挑戰，傳統的測試工具因其高頻，高共模，高壓等特性已經不能滿足測試要求，泰克推出針對第三代功率器件全新的光隔離技術的測試系統，再一次引領全新的探測技術。

電子電子開發仿真實驗平臺

專為中國高校設計，泰克推出電力電子開發仿真實驗平臺REPERS，從實際工程和產品開發需求出發，以“工程思維訓練”和“產品思維訓練”為核心，執行“真開發”、研發“真產品”、落實“真應用”，將電力電子技術與新能源應用場景相結合。根據儲能、光伏發電、電動汽車、智能微電網等新能源應用的需求，進行相關電源、控制產品的認知、仿真、開發、測試和系統應用。REPERS執行“在系統應用中找需求”的理念，讓學生在應用中找問題，在開發中找欠缺。通過問題引導理論學習，并將知識應用于開發，實現理論知識、實踐教學、產品開發、系統應用的循環引導體系，相互促進。

REPERS執行“以設計為中心”的實踐教學理念，培養學生開發產品的能力。掌握小產品，熟悉大工程。讓學生在學習過程中熟悉產品開發的流程，懂得如何完成器件選型、控制仿真、電路設計、拓撲驗證、算法運行和系統測試等工作，而不只是進行傳統的驗證與簡單仿真工作。讓傳統的“以教學為中心”轉變為基于真實產品的“以設計為中心”，讓學生基于場景設計產品，基于需求設計功能，基于功能選擇器件、模塊和控制算法。帶著實際工程問題進課堂，用工程問題引領實踐教學改革。

泰克/安立 PCIE Gen5聯合解決方案，助力下一代高速通信接口測試

"2020年的疫情，提升了人們對網絡服務的依賴性，進一步加快了對數據中心的需求。數據中心的交換速率已經從 100 G 逐漸向 4 00G 800G 轉換，使得數據中心的處理核心服務器以及存儲需要具備更高的性能來應對迅速增長的數據。應用服務器、存儲的 P CI e 的接口在 P CI3.0 停滯了一段時間后快速的向 P CI e 4.0 切換， P CI e 5.0 的測試規范也馬上要正式發布，基于更高速率的 P CI e 6.0 的規范也在制定中。同時 5 G 網絡的快速部署以及更多互連應用的興起，又進一步促進了包括 U SB,DP,TBT,HDMI 各類消費電子接口的快速提升。

作為測試測量行業的代表，泰克、安立與GEL攜手共話高速接口PCIe/USB/DP/TBT，搭建PCIe和USB一致性測試系統。"

新型計算框架及憶阻器、神經元網絡測試

憶阻器備受關注的重要應用領域包括：非易失存儲(Nonvolatile memor)，邏輯運算(Logic computing)，以及類腦神經形態計算(Brain-inspired neuromorphic computing) 等。這三種截然不同又相互關聯的技術路線，為發展信息存儲與處理融合的新型計算體系架構，突破傳統馮? 諾伊曼架構瓶頸，提供了可行的路線。

目前，國內憶阻器研究在材料體系、物理機制、性能優化、規模集成、非線性電路和類腦神經形態計算等方面取得了令人鼓舞的進展，但在憶阻器可靠性、陣列的控制電路設計，以及CMOS 集成工藝等方面還需要研究者和廣大工程技術人員協同攻關，更需要針對憶阻器不同研究階段的專業的測試系統保駕護航。