zhangchangyou：
tfy8888老兄,我想要以下標準,可不可以發到我郵箱,謝謝你的無私奉獻,如果不行,貼上來,行嗎?謝謝您,我的郵箱是zhang_changyou@yahoo.com.cnGB/T11279-1989電子元器件環境試驗使用導則 GB/T11461-1989頻譜分析儀通用技術條件 GB/T11462-1989頻譜分析儀測試方法 GB/T11463-1989電子測量儀器可靠性試驗 GB/T11464-1989電子測量儀器術語 GB/T11465-1989電子測量儀器熱分布圖 GB/T11482-1989交流等離子體顯示器件總規范(可供認證用) GB/T11483-1989交流等離子體顯示器件測試方法 GB/T11493-1989半導體集成電路外殼空白詳細規范GB/T11497.1-1989半導體集成電路CMOS電路系列和品種54/74HC系列的品種 GB/T11497.2-1989半導體集成電路CMOS電路系列和品種54/74HCT系列的品種 GB/T11498-1989膜集成電路和混合膜集成電路分規范(采用鑒定批準程序)(可供認證用)GB/T12084-1989半導體集成電路TTL電路系列和品種54/74F系列的品種 GB/T12114-1989高頻信號發生器通用技術條件 GB/T12115-1989高頻信號發生器測試方法 GB/T12300-1990功率晶體管安全工作區測試方法GB/T12560-1990半導體器件分立器件分規范(可供認證用) GB/T12561-1990發光二極管空白詳細規范(可供認證用) GB/T12562-1990PIN二極管空白詳細規范(可供認證用) GB/T12565-1990半導體器件光電子器件分規范(可供認證用) GB/T12750-1991半導體集成電路分規范(不包括混合電路)(可供認證用) GB/T12793-1991電連接器接觸件嵌卸工具總規范 GB/T12796-1991永磁鐵氧體磁體總規范(可供認證用) GB/T12843-1991半導體集成電路微處理器及外圍接口電路電參數測試方法的基本原理 GB/T12844-1991半導體集成電路非線性電路系列和品種采樣/保持放大器的品種 GB/T12845-1991半導體集成電路非線性電路系列和品種電壓/頻率和頻率/電壓轉換器的品種 GB/T12846-1991脈沖閘流管總規范(可供認證用) GB/T12856-1991程序設計語言BASIC子集GB/T12992-1991電子設備強迫風冷熱特性測試方法 GB/T12993-1991電子設備熱性能評定 GB/T13537-1992電子類家用電器用電動機通用技術條件 GB/T13973-1992半導體管特性圖示儀通用技術條件 GB/T13974-1992半導體管特性圖示儀測試方法 GB/T14025-1992半導體集成電路門陣列電路系列和品種ECL系列的品種 GB/T14026-1992半導體集成電路微型計算機電路系列和品種80C86系列的品種 GB/T14027.1-1992半導體集成電路通信電路系列和品種有源濾波器系列品種 GB/T14027.2-1992半導體集成電路通信電路系列和品種脈碼調制編譯碼器系列品種 GB/T14027.3-1992半導體集成電路通信電路系列和品種模擬開關陣列系列品種 GB/T14027.4-1992半導體集成電路通信電路系列和品種雙音多頻電路系列品種 GB/T14027.5-1992半導體集成電路通信電路系列和品種電話電路系列品種 GB/T14027.6-1992半導體集成電路通信電路系列和品種頻率合成器系列品種 GB/T14027.7-1992半導體集成電路通信電路系列和品種數字交換系統接口電路系列品種 GB/T14028-1992半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T14029-1992半導體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理 GB/T14030-1992半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理 GB/T14031-1992半導體集成電路模擬鎖相環測試方法的基本原理 GB/T14032-1992半導體集成電路數字鎖相環測試方法的基本原理 GB/T14114-1993半導體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉換器測試方法的基本原理 GB/T14115-1993半導體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理 GB/T14116-1993彩色液晶顯示器件的光度和色度的測試方法 GB/T14117-1993彩色液晶顯示器件空白詳細規范(可供認證用) GB/T14119-1993半導體集成電路雙極熔絲式可編程只讀存儲器空白詳細規范(可供認證用) GB/T14860-1993通信和電子設備用變壓器和電感器總規范 GB/T14862-1993半導體集成電路封裝結到外殼熱阻測試方法 GB/T15151.1-1994頻率計數器通用技術條件 GB/T15151.2-1994頻率計數器測試方法 GB/T15167-1994半導體激光光源總規范 GB/T15183-1994按能力批準評定質量的電子設備用電源變壓器分規范 GB/T15184-1994按能力批準評定質量的電子設備用開關電源變壓器分規范 GB/T15272-1994程序設計語言CGB/T15189-1994DOS中文信息處理系統接口規范 GB/T15287-1994抑制射頻干擾整件濾波器第一部分:總規范 GB/T15288-1994抑制射頻干擾整件濾波器第二部分:分規范試驗方法的選擇和一般要求 GB/T15289-1994數字存儲示波器通用技術條件和測試方法 GB/T15290-1994電子設備用電源變壓器和濾波扼流圈總技術條件 GB/T15295-1994電纜分配系統用混合集成電路高頻寬帶放大器系列和品種 GB/T15297-1994微電路模塊機械和氣候試驗方法 GB/T15637-1995數字多用表校準儀通用技術條件GB/T15649-1995半導體激光二極管空白詳細規范 GB/T15650-1995半導體集成電路系列和品種CMOS門陣列電路系列的品種 GB/T15651-1995半導體器件分立器件和集成電路第5部分:光電子器件 GB/T15652-1995金屬氧化物半導體氣敏元件總規范 GB/T15653-1995金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法 GB/T15946-1995可程控測量設備的標準數字接口 GB/T16261-1996印制板總規范GB/T16264.5-1996信息技術開放系統互連目錄第5部分:協議規范 GB/T16464-1996半導體器件集成電路第1部分：總則GB/T16511-1996電氣和電子測量設備隨機文件 GB/T16512-1996抑制射頻干擾固定電感器第1部分總規范 GB/T16513-1996抑制射頻干擾固定電感器第2部分分規范試驗方法和一般要求的選擇 GB/T16720.1-1996工業自動化系統制造報文規范第1部分：服務定義 GB/T16720.2-1996工業自動化系統制造報文規范第2部分：協議規范 GB/T16720.3-1996工業自動化系統制造報文規范第3部分：機器人伴同標準 GB/T16720.4-1998工業自動化系統制造報文規范第4部分:數值控制用伴同標準 GB/T17023-1997半導體器件集成電路第2部分:數字集成電路第二篇HCMOS數字集成電路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族規范 GB/T17024-1997半導體器件集成電路第2部分:數字集成電路第三篇HCMOS數字集成電路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白詳細規范 GB/T17572-1998半導體器件集成電路第2部分:數字集成電路第四篇CMOS數字集成電路4000B和4000UB系列族規范 GB/T17573-1998半導體器件分立器件和集成電路第1部分:總則 GB/T17574-1998半導體器件集成電路第2部分:數字集成電路 GB/T17624.1-1998電磁兼容綜述電磁兼容基本術語和定義的應用與解釋 GB/T17626.10-1998電磁兼容試驗和測量技術阻尼振蕩磁場抗擾度試驗 GB/T17626.1-1998電磁兼容試驗和測量技術抗擾度試驗總論 GB/T17626.12-1998電磁兼容試驗和測量技術振蕩波抗擾度試驗 GB/T17626.2-1998電磁兼容試驗和測量技術靜電放電抗擾度試驗 GB/T17626.3-1998電磁兼容試驗和測量技術射頻電磁場輻射抗擾度試驗 GB/T17626.4-1998電磁兼容試驗和測量技術電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗 GB/T17626.6-1998電磁兼容試驗和測量技術射頻場感應的傳導騷擾抗擾度 GB/T17626.7-1998電磁兼容試驗和測量技術供電系統及所連設備諧波、諧間波的測量和測量儀器導則 GB/T17626.8-1998電磁兼容試驗和測量技術工頻磁場抗擾度試驗 GB/T17626.9-1998電磁兼容試驗和測量技術脈沖磁場抗擾度試驗 GB/T17645.31-1998工業自動化系統與集成零件庫第31部分:實現資源:幾何編程接口 GB/T1772-1979電子元器件失效率試驗方法 GB/T2036-1994印制電路術語GB/T3431.2-1986半導體集成電路文字符號引出端功能符號 GB/T3435-1987半導體集成CMOS電路系列和品種4000系列的品種 GB/T3436-1996半導體集成電路運算放大器系列和品種 GB/T3437-1982半導體集成電路MOS存儲器系列和品種 GB/T3438-1982半導體集成電路雙極型存儲器系列和品種 GB/T3453-1994數據通信基本型控制規程 GB/T3482-1983電子設備雷擊試驗方法 GB/T3483-1983電子設備雷擊試驗導則 GB/T3664-1986電容器非線性測量方法