wonder_：
主辦方好，本人申請試用； 試用原因：1.在設(shè)計某產(chǎn)品的換向電路中因MOSFET耐壓問題，導(dǎo)致控制板合格率不高，欲采用耐壓高的SIC器件重新設(shè)計 ； 試用規(guī)劃：1.采用SIC的DEMO板測試特定負(fù)載下板子的SIC器件的工作狀態(tài)，包括開關(guān)速度、熱耗及穩(wěn)定性。2.對比SIC的DEMO板和MOSFET電路的試驗數(shù)據(jù)；3.匯總試驗結(jié)果書寫實驗報告。 本人工作單位：北京華攝半導(dǎo)體科技有限公司