aruba：
8.1.3對(duì)Ⅱ類(lèi)器具以外的其他器具用圖3中所示的試驗(yàn)探棒,而不用試驗(yàn)指和試驗(yàn)銷(xiāo),用不明顯的力施加于一次開(kāi)關(guān)動(dòng)作而全極斷開(kāi)的可見(jiàn)灼熱電熱元件的帶電部件上.只要與這類(lèi)元件接觸的支撐件在不取下罩蓋或類(lèi)似部件情況下,從器具外面明顯可見(jiàn),則該試驗(yàn)探棒也施加于這類(lèi)支撐件上.試驗(yàn)探棒應(yīng)不能觸及到這些帶電部件.