高速數字光耦的開關特性，高速數字光耦或者我們所說的“開關光耦”，其主要特性就是開關特性，也就是開通和關斷過程的時間特性，以下是數字光耦HCNW2611的開關特性測試示意圖及參數，由于良好的開關特性要求，這類光耦的開關時間相對較小，一般是幾十至幾百納秒（ns），HCNW2611是反邏輯光耦。   

< 光 耦 開 關 特 性 測 試 電 路 >

以下表中參數，可以看出從輸入到輸出的傳輸延時：tPLH和tPLH是相對較小的，PHL表示的是輸入為高到輸出變低的傳輸延時，而PLH是輸入為低時，輸出變為高的過程延時特性；對于上升（tr）和下降（tf）時間參數也是ns級別。

< 高 速 光 耦 開 關 特 性 參 數 >

普通光耦的開關特性，以下是億光EL817開關特性測試電路以及開關特性參數，相比高速數字光耦，可以看出這類光耦開關時間相對是比較大的，達到us級別，包括延時和信號上升和下降的時間，這里延時時間分別用ton和toff表示，意味著開通延時和關斷延時。

< 光 耦 開 關 特 性 測 試 電 路 >

< 普 通 光 耦 開 關 特 性 參 數 >

從可知，高速開關光耦相比普通光耦，開關時間特性更優，通常延時和信號上升和下降是幾百ns之內。