AEC-Q100文件，是芯片開展車規等級驗證的重要標準和指導文件，本文將重點對G組的第3項CA - Constant Acceleration恒加速度項目進行介紹。

CA - Constant Acceleration 恒加速度

我們先看一下表格中內容的含義。

表格中信息介紹和解讀

表格中的信息給出，CA的分類是G3，Notes中包含了H D G，也就是說要求密封器件、破壞性測試、承認通用數據。

需求的樣品數量是15pcs/Lot，來自1個批次。

接受標準是0失效；

參考文件是MIL-STD-883 Method2001

（編者注：MIL-STD-883是一個很復雜的標準文件，我參考的K版本多大765頁，其中Method2001代表其中的子文件編號。原文件對自身的介紹如下：

此標準為測試適用于軍事和航空航天電子系統的微電子器件制定了一致的測試方法、控制和流程，包括基本的環境測試，以確定在自然環境測試在產品對軍事和航天行為及相關條件的有害影響的抵抗力;機械和電氣試驗;工藝和培訓流程;以及被認為必要的其他控制和約束，以確保適合于此標準的產品可以達到預期應用的統一質量和可靠性水平。就本標準而言，術語“器件”包括單片、多芯片、薄膜和混合微電路、微電路陣列以及構成電路和陣列的元件等項目。本標準僅適用于微電子器件。）

附加需求：

僅Y1平面，30k g-force為＜40只引腳的封裝，20k g-force為40引腳或以上的器件。

我們來看一下MIL-STD-883 Method2001這個文件。

MIL-STD-883 Method2001 CONSTANT ACCELERATION

1 目的

該測試用于確定恒定加速度對微電子器件的影響。這是一種加速試驗，旨在指出在沖擊和振動試驗中不一定檢測到的結構和機械缺陷類型。它可以用作高應力測試，以確定封裝、內部金屬化和引線系統、Die或襯底附件以及微電子器件的其他元素的機械能力極限。通過建立適當的應力水平，它也可以作為一種在線的100%篩選來檢測和消除任何結構元素中低于額定機械強度的器件。

2 儀器

恒定加速度試驗應在能夠在規定時間內施加規定加速度的裝置上進行。

3 流程

器件應被其外殼或正常的安裝夾具所約束，并固定引腳或連接線。

除非另有規定，在X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2的每個方向上，應對器件施加指定值的恒定加速度，至少持續1分鐘(見注釋1)。對于內部元件安裝時主座平面垂直于Y軸的器件，Y1方向應定義為元件可以于從其安裝上移除的方向。除非另有規定，應適用試驗條件E。注:“壓力水平”是絕對的最小值，沒有可以降低的公差范圍。自旋半徑應從轉子的中心到元件附件的第一個點。見圖2001-1。

注1:雙腔器件可能需要多次旋轉，器件方向反轉以適當地施加應力。

（編者注：AEC Q100中，要求是僅Y1平面，30k g-force為＜40只引腳的封裝，20k g-force為40引腳或以上的器件。也就是根據引腳數量不同，選擇D和E兩個標準即可。特別注意Y1方向是零件安裝的方向。）

4 總結

下列細節應在適用的接受文件中規定:

a.除測試條件E外，施加應力的加速度數值，單位為g(見3)。

b.應力后進行電性能測量的結果。

c.任何持續時間的變化或方向的限制原因(例如，僅Y1方向)(見3)。

d.實驗方向的順序，如果不是指定的(見3)。

圖2001-1 旋轉中心示意

其中：

g = 實驗產品的加速度

ω = 每分鐘轉數

r = 半徑（英尺單位）（從轉盤中心點到附加元件的第一個點）

本文對AEC-Q100 G組的第3項內容CA - Constant Acceleration 恒加速度項目進行了介紹和解讀，希望對大家有所幫助。

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