01、問題現象描述

某款產品在3米法電波暗室進行輻射（RE）發射測試時,發現多個頻點余量不滿足6dB管控要求，具體測試數據如下：

圖1：輻射發射測試數據

02、問題原因分析

通過頻譜分析儀近場探頭分析定位到干擾頻點來自于SPI Flash時鐘信號的高次諧波干擾，深入分析發現SPI Flash時鐘信號回流主芯片的參考地存在嚴重的分割情況，造成時鐘信號回流面積變大，引起輻射發射測試超標。

圖2：SPI Flash芯片PCB Layout圖（修改前）

03、問題解決方案

修改PCB Layout，調整SPI Flash時鐘信號參考地平面，使之參考地平面保持完整性，并優化SPI Flash芯片其它信號布線，時鐘信號兩側包地隔離串擾。

圖3：SPI Flash芯片PCB Layout圖（修改后）

PCB Layout修改后，回板重新測試輻射發射，其結果滿足6dB余量管控標準的要求，具體測試數據如下：

圖4：SPI Flash芯片供電電源引腳頻譜圖

04、案例思考與啟示

SPI Flash芯片時鐘信號工作頻率及高次諧波頻率的輻射發射問題，在電子產品中是經常遇到。大部分工程師首先想到的是降低信號幅度，增加濾波電路，費了九牛二虎之力發現效果還不理想，往往是求解無門。即使是增加濾波電路勉強解決輻射發射問題，回頭發現信號質量又不滿足設計要求，被問題搞的焦頭爛額，束手無策。

SPI Flash信號參考完整性的問題卻容易被工程師們忽略，保持時鐘信號參考完整性是解決輻射發射問題的殺手锏之一，本案例就深刻的詮釋是參考完整性的重要性，且能夠保證對策的低成本，還能夠信號的高質量。