硬開關
1.開關損耗大。開通時，開關器件的電流上升和電壓下降同時進行；關斷時，電壓上升和電流下降同時進行。電壓、電流波形的交疊產生了開關損耗，該損耗隨開關頻率的提高而急速增加。
2.感性關斷電尖峰大。當器件關斷時，電路的感性元件感應出尖峰電壓，開關頻率愈高，關斷愈快，該感應電壓愈高。此電壓加在開關器件兩端，易造成器件擊穿。
3.容性開通電流尖峰大。當開關器件在很高的電壓下開通時，儲存在開關器件結電容中的能量將以電流形式全部耗散在該器件內。頻率愈高，開通電流尖峰愈大，從而引起器件過熱損壞。另外，二極管由導通變為截止時存在反向恢復期，開關管在此期間內的開通動作，易產生很大的沖擊電流。頻率愈高，該沖擊電流愈大，對器件的安全運行造成危害。
4.電磁干擾嚴重。隨著頻率提高，電路中的di/dt和dv/dt增大，從而導致電磁干擾（EMI）增大，影響整流器和周圍電子設備的工作。
軟開關：
上述問題嚴重阻礙了開關器件工作頻率的提高。近年來開展的軟開關技術研究為克服上述缺陷提供了一條有效的途徑。和硬開關工作不同，理想的軟關斷過程是電流先降到零，電壓在緩慢上升到斷態值，所以關斷損耗近似為零。由于器件關斷前電流已下降到零，解決了感性關斷問題。理想的軟開通過程是電壓先降到零，電流在緩慢上升到通態值，所以開通損耗近似為零，器件結電容的電壓亦為零，解決了容性開通問題。同時，開通時，二極管反向恢復過程已經結束，因此二極管方向恢復問題不存在。
