反激式開關(guān)電源調(diào)試實戰(zhàn)：輸出掉電壓問題分析與解決

 

一、問題描述

在調(diào)試一款24V/3A反激式開關(guān)電源時，發(fā)現(xiàn)空載輸出電壓正常（24V±0.5V），但帶載（>1A）后電壓跌落至20V左右，同時MOSFET發(fā)熱嚴(yán)重，效率低。  

 

 

二、調(diào)試步驟與過程

 

第一步：確認(rèn)現(xiàn)象并采集關(guān)鍵波形

測試條件

   - 輸入電壓：AC 220V  

   - 負(fù)載：0A（空載）、1A（輕載）、3A（滿載）  

   - 示波器觀察：Vds（MOSFET漏源極電壓）、Vout（輸出電壓）、次級二極管電流  

 

觀察到的現(xiàn)象  

   -空載時：Vout=24V，Vds波形正常，無異常振蕩。  

   - 帶載1A時：Vout降至22V，Vds波形出現(xiàn)較大尖峰（>100V）。  

   - 帶載3A時：Vout跌至20V，嚴(yán)重大小波，MOSFET嚴(yán)重發(fā)熱（10分鐘>80℃），效率僅78%。  

 

第二步：分析可能原因

根據(jù)現(xiàn)象，初步判斷問題可能來自：

反饋環(huán)路不穩(wěn)定（TL431+光耦補償不當(dāng)）   變壓器設(shè)計問題（漏感過大或匝比錯誤）   輸出整流二極管或電容問題（ESR過高或反向恢復(fù)差）   RCD吸收回路參數(shù)不當(dāng)（導(dǎo)致MOSFET電壓應(yīng)力高、損耗大，同時還影響環(huán)路）  

 

 

第三步：逐項排查

檢查反饋環(huán)路

- 測試方法：斷開環(huán)路，用可調(diào)電源模擬Vout，觀察TL431和光耦響應(yīng)。  

- 發(fā)現(xiàn)問題：  

  - TL431的補償電容（Ccomp=1uF）過大，導(dǎo)致環(huán)路響應(yīng)慢。  

  - 光耦限流電阻（Rlimit=10kΩ）偏大，動態(tài)調(diào)整能力不足。  

- 解決方案：  

  - 減小Ccomp至100nF，加快響應(yīng)速度。  

  - 降低Rlimit至1kΩ，增強光耦驅(qū)動能力。  

 

結(jié)果：帶載1A時Vout回升至23.5V，但3A時仍跌落至21V，問題未完全解決。  

 

 

檢查變壓器設(shè)計

- 測試方法：用LCR表測量變壓器參數(shù)，并觀察Vds波形尖峰。  

- 發(fā)現(xiàn)問題：  

  - 漏感測量值≈30uH（偏大，設(shè)計值為400uH，理想應(yīng)20uH）。  

  - Vds尖峰高（>150V），說明漏感能量未有效吸收。  

- 解決方案：  

  - 優(yōu)化變壓器繞法（采用三明治繞制，減少漏感）。  

  - 調(diào)整RCD吸收回路（原R=200Ω，C=1nF，D=FR107 → 改為R=47Ω，C=2.2nF，D=GS2M）。  

 

結(jié)果：Vds尖峰降至100V，但Vout在3A時仍只有21.5V，效率提升至82%，問題未完全解決。  

 

 

檢查輸出整流部分

- 測試方法：用示波器觀察次級二極管電流和Vout紋波。  

- 發(fā)現(xiàn)問題：  

  - 整流二極管（原用UF5408）反向恢復(fù)時間長，過電流能力差，導(dǎo)致關(guān)斷損耗大。  

  - 輸出電容（原用2*680uF電解）ESR較高（約0.5Ω），大電流下壓降明顯。  

- 解決方案：  

  - 更換二極管為肖特基二極管（MBR10200），降低反向恢復(fù)損耗。  

  - 輸出電容改為低ESR固態(tài)電容（2*680uF/35V，ESR<0.1Ω）。  

 

結(jié)果：3A負(fù)載時Vout回升至23V，效率提升至86%，老化10分鐘MOSFET溫度降至60℃以下。  

 

 

最終優(yōu)化：調(diào)整PWM頻率

- 原設(shè)計：fsw=65kHz，發(fā)現(xiàn)輕載時進(jìn)入DCM模式，導(dǎo)致調(diào)整困難，輕載效率低。  

- 優(yōu)化方案：更換高頻主控IC，提高頻率至100kHz，使電源工作在輕載時工作在臨界連續(xù)模式（BCM），改善調(diào)整率。  

 

最終結(jié)果：  

- 空載至滿載（0A-3A），Vout穩(wěn)定在24V±1V。  

- 效率提升至88%，10分鐘MOSFET溫度<55℃。  

 

 

三、總結(jié)與經(jīng)驗

反饋環(huán)路：TL431補償電容和光耦限流電阻對動態(tài)響應(yīng)影響極大，需精細(xì)調(diào)整。   變壓器漏感：直接影響Vds尖峰和效率，優(yōu)化繞制工藝可大幅改善性能。   整流二極管選擇：快恢復(fù)或肖特基二極管能顯著降低損耗。   RCD吸收回路：需根據(jù)實測Vds尖峰調(diào)整，避免過度損耗。  

 

關(guān)鍵調(diào)試技巧：  

? 先調(diào)環(huán)路，輸出正常后再優(yōu)化功率部分  

? 示波器觀察Vds、Vout、二極管電流，能快速定位問題  

? 逐步增加負(fù)載，觀察電壓跌落和溫升趨勢  

 

希望這個案例對大家有幫助！如果有類似問題，歡迎交流討論！