Model 58173 LED 全光通量自動測試系統
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主要特色：
提供全方位電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試Chroma大面積光偵測器(量測角度可達128度)半自動精密LED wafer/chip點測設備特製Edge Sensor具有點測針壓穩定，無疲乏與針壓變動問題機械視覺定位系統，縮短人工操作時間自動抽測功能彈性調整的軟體操作界面快速芯片掃描系統自動破片掃描演算法遮光罩設計，杜絕背景光干擾即時顯示點測資料分佈圖完善的量產測試統計報表及分析工具
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硬體設備
自動化 LED wafer/chip 點測設備漏電流測試模組電源量測單元光學測試模組ESD 測試模組 (選配)Chroma 58173 是一組全新獨特的量測 LED 全光通量之自動化測試系統。在LED的裸晶與晶粒測試生產線中，常見使用部份光通量來取代全光通量之量測方式 (見圖1)。然而，傳統的方式存在一些缺點，例如：準確度較低、訊噪比較低、測試時間較長等，以致於導入LED 的裸晶與晶粒生產線時會發生問題。
致茂研發出一種全新、高速且高精確度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。 這種創新的量測方式不僅比傳統方式收集更多的 LED 部分光通量，也明顯的改善提升了量測精確度。
在光學量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可透過致茂獨特的光學設計與元件取得精確且穩定快速之數據；在機構方面，58173 搭載一個6吋的晶片載盤與校正基座，提供使用者一個完整的校正與測試平臺；在電性測試方面，58173 則具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可於一次滿足使用者的測試需求。
